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Laser-Messtechnik, ZLM 700 einachsige Messaufgaben, Laser interferometrische Mess System

Laser-Messtechnik, ZLM 700 einachsige Messaufgaben, Laser interferometrische Mess System

ZLM 700 – Das Einachs – Laserinterferometer für die meisten Anwendungsgebiete Mit dem Zweifrequenz- Laserwegmeßsystem ZLM 700 wird in Jena eine lange Tradition im Bau von Laserinterferometern fortgesetzt. Es werden die bewährten maßstabsverkörpernden Eigenschaften des stabilisierten Helium-Neon-Gaslasers mit der modernsten Elektronik zu einem neuartigen Laser interferometrischen Meßsystem verbunden. Programmierbare ASIC-Bausteine gestatten völlig neue Möglichkeiten in der technischen Realisierung von Kundenanforderungen. Die Einsatzmöglichkeiten des ZLM 700 reichen vom Solokalibriersystem über mehrachsige Positioniereinrichtungen bis zu kompletten Steuersystemen für Maschinen und Systemen können vollständig bewertet und über die komfortable WINDOWS™-Software anwenderspezifisch ausgewertet werden. Als vollständig modular aufgebautes System mit besten Zeiss-Optikbausteinen garantiert das ZLM 700 die Lösung aller Meßaufgaben, die Laser interferometrisch möglich sind: Position Weg Geschwindigkeit Beschleunigung Winkel Schwingung Geradheit Rechtwinkligkeit Ebenheit Fluchtung Arbeitsweise Das patentierte Wirkprinzip des entwickelten Zweifrequenz- Laserwegmeßsystem ZLM 800 basiert auf dem Zweifrequenz- Heterodyn-Verfahren des He-Ne-Gaslasers. Die Schwebungsfrequenz von 640 MHz der beiden Moden des auf 0,002 ppm thermisch stabilisierten Lasers wird zur Signalverarbeitung ermöglicht vervierfacht. Diese Hochfrequenzsignalverarbeitung ermöglicht Messungen bei sehr hohen Objektgeschwindigkeiten ohne Interpolationsfehler und extrem geringen Signalverzögerungen. Zur Übertragung des Meßsignals von der Interferometer Optik zur Meßwerterfassungselektronik auf der PC-Steckkarte werden Lichtleitkabel verwendet, so dass Signalstörungen durch elektromagnetische Umwelteinflüsse ausgeschlossen sind. Das Einsatzgebiet des ZLM 800 reicht somit von der rauhen Industrieumgebung über Meßraumbedingungen bis zum Hochvakuum. Alternativ zur PC-Steckkarte wird für die Meßsignalverarbeitung eine separate Elektronikeinheit mit zahlreichen Schnittstellen zur Messwert Ausgabe und zum Einsatz in geschlossenen Regelkreisen angeboten. Diese Variante ist bis zu 6-Achsen aufrüstbar.
PSS-40/S

PSS-40/S

Prüfstationen für Stanzstreifen. Breite: 550 mm Tiefe: 900 mm Höhe: < 2.100 mm Stromversorgung: 230 V/50 Hz/10 A Druckluft: 6 - 8 bar (nur mit Option Aushacker notwendig) Bauform kompakt und platzsparend I.d.R. Einsatz von 2 - 3 Kameras Wechselplatte nach vorn austauschbar Bedienteil nach rechts (links) zu öffnen
vicotar® BLUE Vision Serie TO88 telezentrische Objektive

vicotar® BLUE Vision Serie TO88 telezentrische Objektive

vicotar® BLUE Vision Serie telezentrische Messobjektive mit 88 Millimeter Objektfelddurchmesser telezentrisches Messobjektiv mit objektseitig telezentrischem Strahlengang farbkorrigiert für den sichtbaren Spektralbereich und nahes Infrarot Farbkorrektur erweitert bis tief in den blauen Spektralbereich sehr gut geeignet für blaue LEDs inklusive „Deep Blue“-LED dadurch besonders geeignet für weiße LEDs, da diese einen starken Blaulicht-Anteil besitzen hochauflösend, geringer Farbquerfehler, verzeichnungsarm, geringer Telezentriefehler verstellbare Blende mit Kennzeichnung der Blendenzahlen, arretierbar robuste Industrie-Ausführung verschiedenen Sensorgrößen von 1/3” bis hin zum DX-Format auch in rüttelfester Ausführung mit fester Blende Dank des parallelen Strahlengangs auf der Objektseite bilden sie ohne perspektivische Verzerrungen ab. Nur so sind exakte Messungen und Positionsbestimmungen möglich. Die lichtstarken Objektive sind nicht nur für den sichtbaren Spektralbereich und nahes Infrarot, sondern bis tief in den blauen Bereich farbkorrigiert. Dadurch arbeiten sie optimal mit dem Licht blauer, aber auch weißer LEDs zusammen, da letztere einen hohen Anteil an blauem Licht besitzen. Bilduntersuchungen mit blauem Licht zeichnen sich durch höchste Schärfe bei maximaler Tiefenschärfe aus. Bei entsprechender Beleuchtung kann so praktisch die doppelte Auflösung gegenüber konventionellen Abbildungen erreicht werden. Sehen Sie unten aufgeführt alle 6 Objektive der Serie TO125, mit einigen Details, die jeweils für jedes Objektiv zutreffen. TO88/6.0-290-V-BW: C-Mount Objektiv TO88/9.0-155-V-BW: telezentrisches Messobjektiv TO88/11.0-140-V-BW: verstellbare Blende TO88/16.0-130-V-BW: geringer Telezentriefehler TO88/21.5-140-V-BW: Arbeitsabstand hier 140 mm TO88/28.4-130-V-BW: M42 Anschluss in dieser Ausführung
Magnetfeldmessung & Analyse

Magnetfeldmessung & Analyse

Messen Sie die magnetische Unwucht Ihres Rotors in Sekundeschnelle. Ptimieren SIe Ihren Fertigungsprozess und reduzieren SIe Ihren Ausschuss Schnellster Magnetfeldscan am Markt Einsatzgebiet ist die taktzeitoptimierte Serienproduktion Das Messsystem dient als Q-Wall in Ihrer Linie, in dem es die magnetische Unwucht misst und bewertet. Sortieren Sie frühzeitig Teile mit schlechten magnetischen Eigenschaften aus welche im Falle eines Verbaus zu Perfomance oder NVH-Aufälligkeiten führen würden. Sparen Sie sich teure Feldrückläufer
Ultraschallprüfung - UT

Ultraschallprüfung - UT

(Impuls-Echotechnik, Phased Array Technik) Die UT-Prüfung wird hauptsächlich zur Kontrolle von Vormaterialien und im Bereich der Schweißnaht, Gussteil- und Schmiedeteilprüfung eingesetzt. Damit ist es möglich das Prüfteilvolumen der Bauteile auf mögliche Fehler wie: Bindefehler, Lunker, Kernzerschmiedungen zu untersuchen. Zum Einsatz kommen die Impuls-Echo-Technik oder Phased Array Technik (Gruppenstrahler-Technologie). Beispielanwendungen: Schweissverbindungen aller Art; Dopplungsprüfung; Wanddickenmessung; Brückenkonstruktionen; Druckbehälter
Optische Messtechnik - 3D-Oberflächenmesstechnik

Optische Messtechnik - 3D-Oberflächenmesstechnik

Die Weißlichtinterferometrie gehört zu den bewährten optischen Messverfahren für die Erfassung von 3D-Topografien mit Tiefenauflösungen bis in den unteren Nanometerbereich. Die Weißlichtinterferometrie gehört zu den bewährten optischen Messverfahren für die Erfassung von 3D-Topografien mit Tiefenauflösungen im unteren Nanometerbereich. Aufgrund der parallelen Erfassung und Verarbeitung der Messpunkte können Höheninformationen großflächig und in sehr kurzer Zeit gewonnen werden. Typische Einsatzfelder in der Qualitätssicherung und in der Forschung sind die Charakterisierung von Oberflächen verschiedener Rauheit (Waferstrukturen, Spiegel, Glas, Metalle), die Bestimmung von Stufenhöhen und die präzise Messung von gekrümmten Oberflächen, wie z.B. Mikrolinsen. Mit der Produktfamilie smartWLI bieten wir innovative Lösungen zur Anwendung dieses Messprinzips. Zur Steuerung und Auswertung des gesamten Messprozesses wird die bewährte smartWLI-Software eingesetzt. Die darin enthaltenen effizienten, robusten und hochgenauen Auswertealgorithmen sind das Ergebnis umfangreicher Forschungstätigkeit und Erfahrung auf diesem Gebiet.
Introduction to Femtosecond Laser Optics

Introduction to Femtosecond Laser Optics

Kurzpuls-Laser finden in zahlreichen Anwendungen Verwendung, wie beispielsweise in der zeitaufgelösten Spektroskopie, der präzisen Materialbearbeitung und der breitbandigen Telekommunikation. Getrieben von diesen Anwendungen zielen aktuelle Entwicklungen auf Laser ab, die eine höhere Ausgangsleistung und kürzere Pulse erzeugen können. Heutzutage wird die meiste Arbeit in der Kurzpuls-Physik mit Ti:Saphir-Lasern durchgeführt, aber auch Farbstofflaser und Festkörperlaser auf Basis anderer Übergangsmetalle oder seltenen Erden dotierter Kristalle wie Yb:KGW werden zur Erzeugung von Femtosekundenpulsen verwendet. Die reproduzierbare Erzeugung von Sub-100-fs-Pulsen hängt eng mit der Entwicklung von breitbandigen, verlustarmen dispersiven Verzögerungsleitungen zusammen, die aus Prismen- oder Gitterpaaren oder dispersiven Mehrschichtreflektoren bestehen. Die spektrale Bandbreite eines Pulses steht in Beziehung zur Pulsdauer nach einem bekannten Theorem der Fourier-Analyse. Zum Beispiel beträgt die Bandbreite (FWHM) eines 100-fs-Gauß-Pulses bei 800 nm 11 nm. Bei kürzeren Pulsen wird das Wellenspektrum signifikant breiter. Ein 10-fs-Puls hat eine Bandbreite von 107 nm. Wenn ein solcher breiter Puls durch ein optisches Medium propagiert, breiten sich die spektralen Komponenten dieses Pulses mit unterschiedlichen Geschwindigkeiten aus. Dispersive Medien wie Glas verursachen eine sogenannte "positive Chirp" auf den Puls, was bedeutet, dass die kurzwelligeren ("blauen") Komponenten im Vergleich zu den langwelligeren ("roten") Komponenten verzögert werden (siehe schematische Zeichnung in Abbildung 1). Eine ähnliche Verbreiterung kann beobachtet werden, wenn ein Puls von einem dielektrischen Spiegel reflektiert wird und die Bandbreite des Pulses größer oder gleich der Breite des Reflexionsbands des Spiegels ist. Auch breitbandige Spiegel, die aus einem Doppelschichtsystem bestehen, verursachen eine Pulsausbreitung, da die Laufzeiten der spektralen Komponenten des Pulses in diesen Beschichtungen extrem unterschiedlich sind. Im Sub-100-fs-Bereich ist es entscheidend, die Phaseneigenschaften jedes optischen Elements über die extrem breite Bandbreite des fs-Lasers zu kontrollieren. Dies gilt nicht nur für die Stretcher- und Compressor-Einheiten, sondern auch für die Hohlspiegel, Auskoppelspiegel und das Strahlpropagationssystem. Neben dem Leistungsspektrum, d.h. der Reflexion oder Transmission, müssen auch die Phasenbeziehungen zwischen den Fourier-Komponenten des Pulses erhalten bleiben, um eine Verbreiterung oder Verzerrung des Pulses zu vermeiden. Eine mathematische Analyse der Phasenverschiebung, die einem Puls beim Durchgang durch ein Medium oder bei der Reflektion an einem Spiegel zugefügt wird, zeigt, dass die Hauptphysikalischen Eigenschaften, die dieses Phänomen beschreiben, die Gruppendispersionsverzerrung (GDD) und die Verzerrungen dritter Ordnung (TOD) sind. Diese Eigenschaften werden als zweite bzw. dritte Ableitung der reflektierten Phase in Bezug auf die Frequenz definiert. Speziell entwickelte dielektrische Spiegel bieten die Möglichkeit, einem Puls eine "negative Chirp" aufzuerlegen. Auf diese Weise kann der positive Chirp, der sich aus Kristallen, Fenstern usw. ergibt, kompensiert werden. Die schematische Zeichnung in Abbildung 2 erklärt diesen Effekt anhand verschiedener optischer Pfadlängen von blauem, grünem und rotem Licht in einem solchen Spiegel mit negativer Dispersion. LAYERTEC bietet Femtosekunden-Laseroptiken mit unterschiedlichen Bandbreiten an. Dieser Katalog zeigt z.B. Optiken für den Well
OTDR-Messung: OTDR Messung von Dämpfung

OTDR-Messung: OTDR Messung von Dämpfung

Das Opti Fiber Pro Messgerät ist ein leistungsstarkes Tool zur Analyse und Diagnose von Glasfasernetzen. Wir führen durch: - Dämpfungsmessung zur Überprüfung der Signalstärke entlang einer Glasfaserstrecke - OTDR-Messung zur Bestimmung der Länge, Dämpfung und potenzieller Fehlerstellen in der Faser -Verbindungstest (Fiber Inspection) zur Inspektion und Überprüfung der Sauberkeit der Anschlüsse Wir sind Ihr Ansprechpartner für die Themen: Glasfaser-Installationen Netzwerktechnik Datenverbindungen Glasfaser-Spleißen Kupferverkabelung Netzwerkzertifizierung Multimode-Glasfaser Singlemode-Glasfaser EDV-Lösungen Netzwerkplanung Netzwerkberatung Inhaus-Datennetze LWL-Spleißen OTDR-Messungen Systemgarantie Netzwerkkomponenten Netzwerkmodernisierung Netzwerkservice Glasfasertechnik Netzwerkinstallation
Messtechnik

Messtechnik

Unsere Messgeräte können hochgenaue Messungen durchführen • ZOLLER smarTcheck 600: Messgerät der neuesten Generation, smarTcheck 600 + Pilot 3.0 Software. Mit dieser 3-achs CNC-Messmaschine ist das komplette Vermessen aller Werkzeugkonturen ohne Einfluss des Bedieners, sowie erstellen Kundespezifischer Messprotokolle möglich. • TCM 721: Geometrien schnell und einfach prüfen. Kein Raten mehr und keine zeitraubenden Nacharbeiten, da das Messgerät mit der Schleifmaschine kommuniziert. Ergebnis: Perfektes Werkzeug bereits im ersten Anlauf. • GONIOMAT F 102: Präzise Messergebnisse durch Messpunktermittlung mittels Durchlicht-Projektor und Infrarot - Strahl. • Spanwinkelmessgerät: Einfache aber genauste Ermittlung des Spanwinkels an rechts- oder linksgedrallten Zerspanungswerkzeugen. Werkzeuge können zwischen Spitzen oder liegend vermessen werden.
Qualitätssicherung, Qualitätsmanagement, Qualitätskontrolle

Qualitätssicherung, Qualitätsmanagement, Qualitätskontrolle

Unsere Qualitätssicherung stellt sicher, dass Ihre Produkte den höchsten Standards entsprechen. Mit kalibrierten Messmitteln, Prüfdornen, Gewindelehren und weiteren Prüfhilfsmitteln garantieren wir Ihnen eine präzise und zuverlässige Qualitätskontrolle. Unser Qualitätsmanagementsystem nach DIN-ISO 9001 sorgt für kontinuierliche Verbesserungen und höchste Kundenzufriedenheit.
Meßtechnik

Meßtechnik

Treiberentwicklung und Implementierung für Meßtechnik von NI, PEAK, HBM, Goldammer, vector, Kvaser, Woodhead, Yokogawa, Sick ...
Infrarot durchlässige Chalkogenidgläser

Infrarot durchlässige Chalkogenidgläser

Die gute Transmission, geringe Temperaturabhängigkeit der Brechzahl sowie der Dispersion der Chalkogenidgläser helfen Ihnen bei der Konstruktion farbkorrigierter, thermisch unempfindlicher infrarot-optischer Systeme im Bereich von 1 bis 14µm. Die Gläser können ideal auch in Kombination mit anderen IR-Materialien angewendet werden. Sowohl klassische- und Einkorndiamant-Bearbeitung als auch Fertigpressen ermöglichen Ihnen den Einsatz dieser IR-Gläser als Fenster, IR optische Linsen mit sphärisch und/oder asphärisch geformten Oberflächen, Prismen und weiteren optischen Komponenten. Wir fertigen für Sie 5 verschiedene Chalkogenidgläser. • IG 2 Ge33As12Se55 • IG 3 Ge30As13Se32Te25 • IG 4 Ge10As40Se50 • IG 5 Ge28Sb12Se60 • IG 6 As40Se60
Laser-Interferometer Typ: ZLM - Zweifrequenz Laser Messsystem

Laser-Interferometer Typ: ZLM - Zweifrequenz Laser Messsystem

Laser interferometrische Mess Systeme des Typs: ZLM (Zweifrequenz Laser Messsystem) ZLM 700 (einachsige Messaufgaben) ZLM 800 (mehrachsige simultane Messaufgaben) ZLM 900(ein oder mehrachsige Messaufgaben für Fasergeführte Systeme) diverse modulare Komponenten im Baukastensystem für Ihre spezifische Messaufgaben. Geeignet für Position und –Winkelmessung für bis zu 6 Freiheitsgraden, Ebenheitsmessung, Kalibrieraufgaben, zeitliche Abbildung (Geschwindigkeit, Beschleunigung), Schwingungsanalyse, Einbausysteme (Anwender nutzen unsere Systeme für z.B.: Elektronenstrahlbelichter, Wafer Stepper, Halbleiterindustrie, Kalibrierlabore, Bestimmung von Bauwerksverschiebungen und Schwingungsanalyse, zur Bestimmung von Achsenabweichungen und Verfahr Fehlern von Fertigungsmaschinen und Messmaschinen für die mechanische Fertigung )